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比苹果高通快一步!曝三星率先商用2nm芯片:11月进入量产阶段

  • 4月12日消息,三星原计划为Galaxy S25系列搭载自主研发的3nm芯片Exynos 2500,但由于三星代工部门的3nm良率未达标,Galaxy S25系列不得不全系采用高通骁龙8 Elite SoC。如今,三星押注下一代旗舰平台Exynos 2600,这颗芯片首发采用三星2nm工艺制程。据媒体报道,三星2nm工艺制程良率已达40%,预计在今年11月正式启动Exynos 2600的量产工作,Galaxy S26系列将会全球首发Exynos 2600。值得注意的是,芯片制造商通常需达到70%-80%的
  • 关键字: 苹果  高通  三星率  商用  2nm  芯片  量产  Exynos 2600  Galaxy S26  

截胡苹果高通!曝三星Exynos 2600原型五月量产:全球首款2nm芯片

  • 3月13日消息,三星未能按时发布Exynos 2500,Galaxy S25系列被迫全部搭载高通骁龙8 Elite芯片。据媒体报道,三星已将工作重心转向下一代旗舰平台Exynos 2600,这颗芯片首发三星2nm工艺制程,计划在5月份进入原型量产阶段,Galaxy S26系列将会首发搭载,这是全球首款2nm手机芯片。据爆料,Exynos 2600基于三星SF2工艺制造,这是三星第一代2nm制程,较第二代3GAP 3nm制程,SF2在相同计算频率和复杂度情况下可降低25%功耗,相同功耗和复杂度情况下可提高1
  • 关键字: 苹果  高通  三星  Exynos 2600  首款  2nm芯片  

全球首款2nm芯片!曝三星Exynos 2600进展顺利

  • 2月8日消息,刚刚上市不久的三星Galaxy S25系列在全球范围内使用高通骁龙8 Elite芯片,因为三星自己的Exynos 2500 SoC存在良率问题。据媒体报道,三星电子为下一代旗舰平台Exynos 2600投入了大量资源,以确保其按时量产。报道指出,Exynos 2600使用三星2nm工艺制程,试生产良率约为30%左右,高于内部预期,该公司计划在下半年进一步稳定Exynos 2600的量产工艺,Q4开始量产,明年1月登场的Galaxy S26系列将首发搭载,如果计划顺利实施的话,Exynos 2
  • 关键字: 三星  2nm  Exynos 2600  

三星回应:“Exynos 2600 芯片被取消”是毫无根据的谣言

  • 11 月 27 日消息,三星发言人昨日(11 月 26 日)通过科技媒体 Android Headline 发布声明:“所谓的 Exynos 2600 芯片取消量产传闻并不属实,是毫无根据的谣言”。IT之家曾于 11 月 25 日报道,消息源 @Jukanlosreve 在 X 平台曝料后,包括 Gizmochina 在内的多家主流媒体也跟进报道,消息称从韩国芯片设计行业渠道获悉,三星正减少 2025 年的订单,因此推测三星将彻底取消量产 Exynos 2600 芯片计划。此前消息称三
  • 关键字: 三星  SoC  Exynos 2600  

三星 Exynos 2600芯片前景堪忧:良率挑战严峻,有被取消量产风险

  • 11 月 25 日消息,消息源 @Jukanlosreve 于 11 月 22 日在 X 平台发布推文,曝料称从韩国芯片设计行业渠道获悉,三星正减少 2025 年的订单,因此推测三星将彻底取消量产 Exynos 2600 芯片计划。此前援引 DigiTimes 报道,称 3nm 工艺上遇到的困境,并没有击垮三星,反而让三星“越挫越勇”,正积极布局 2nm 芯片,力图在 2026 年实现强势反弹。消息称三星正积极争取来自高通和英伟达的大规模订单,目标是 2026 年初量产。而在此之前,三星计划在 2025
  • 关键字: 三星  Exynos 2600  芯片  良率  

2600-PCT-x/4200-PCT-x参数曲线跟踪仪配置(二)

  • 吉时利参数曲线跟踪仪配置是完整的特性分析工具,包括功率器件分析所需的主要要素。测量通道包括吉时利数字源表reg;源测量单元(SMU)和或
  • 关键字: 2600-PCT-x4200-PCT-x参数曲线跟踪仪配  

2600-PCT-x/4200-PCT-x参数曲线跟踪仪配置(三)

  • 1用于提取参数的测试方法。仅列出典型MOSFET,其他器件使用的方法类似。22657A型高功率系统数字源表仪器。32636A型数字源表或4210
  • 关键字: 2600-PCT-x4200-PCT-x参数曲线跟踪仪配  

用2600系列数字源表进行IDDQ测试和待机电流测试

  • CMOS集成电路(CMOS IC)和电池供电产品的制造商需要测量静态(或“待机”)电源电流用于验证生产测试质量。CMOS IC或其中含有CMOS IC成品的漏电电流测量过程被称为IDDQ测试。此测试要求在IC处于静态条件下测
  • 关键字: 2600    数字源表    IDDQ  

使用基于TSP的3700系列开关/万用表和2600系列源表优化开关测量

  • 吉时利仪器于2005年发布了配备板载测试脚本处理器(TSPTM)的测试和测量仪器——首款2600系列源表。TSP基于消息的编程很像SCPI,还具有通过用户定义的测试脚本实现测试序列/流的控制、决策和仪器自我管理等
  • 关键字: TSP    3700    万用表    2600    开关测量  

2600-PCT-x/4200-PCT-x参数曲线跟踪仪配置

  • 可配置功率电平 :ndash; From 200V to 3kVndash; From 1A to 100Abull; 动态范 围宽:ndash; From mu;V to 3kVndash; From fA to 100Abull; 电容-电压方法:ndash; plusmn;400V多 频C-Vndash; 200V斜 坡速率
  • 关键字: 2600    PCT    4200    参数曲线    跟踪仪  
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